Préparation des échantillons pour MEB et microanalyses
La microscopie électronique à balayage et les microanalyses sont employées très largement dans les secteurs académiques et industriel pour imager, caractériser et quantifier des échantillons solides de toute nature. Pour effectuer des analyses de qualité, précises et reproductives il n'est souv...
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| フォーマット: | Livre papier |
| 言語: | Français |
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Les Ulis :
EDP sciences
DL 2011.
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| 主題: | |
| 注記: |
Publié à l'occasion de 2 journées pédagogiques organisées à Paris par le Groupement national de microscopie électronique à balayage et de microanalyses MEB = Microscopie électronique à balayage |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| 要約: | La microscopie électronique à balayage et les microanalyses sont employées très largement dans les secteurs académiques et industriel pour imager, caractériser et quantifier des échantillons solides de toute nature. Pour effectuer des analyses de qualité, précises et reproductives il n'est souvent pas possible d'utiliser un échantillon tel quel. Une phase préalable de préparation est nécessaire. C'est le but de cet ouvrage d'expliquer aux lecteurs et utilisateurs du MEB et des microanalyses les différents moyens de réaliser cette étape cruciale précédant leur analyse.Les différents chapitres reprennent les thèmes abordés lors des journées pédagogiques du GN-MEBA consacrées à la "Préparation des échantillons pour les observations en MEB et les analyses". Ce sont la découpe, l'enrobage, les polissages mécanique et ionique, le décapage et l'attaque métallographique, le nettoyage et la décontamination, la préparation d'échantillons minces, la fixation, le stockage, la métallisation, le marquage de surface et la préparation d'échantillons mous. Ce livre intéressera donc particulièrement les expérimentateurs désireux de connaître les différentes techniques actuelles de préparation et de conservation des échantillons.Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications, en langue française, du GN-MEBA consacrée aux principes, techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation utilisés en microscopie électronique à balayage et en microanalyses. [Source : 4e de couv.] |
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| 記述事項: | Publié à l'occasion de 2 journées pédagogiques organisées à Paris par le Groupement national de microscopie électronique à balayage et de microanalyses MEB = Microscopie électronique à balayage |
| 物理的記述: | 1 vol. (XVI-216 p.) : ill. en noir et en coul., couv. ill. en noir et en coul. ; 25 cm. |
| 書誌: | Bibliogr. en fin de chapitres |
| ISBN: | 9782759806768 (br.) : |