The physics of SiO2 : and its interfaces : proceedings of the International Topical Conference on the Physics of Si02 and Its Interfaces, held at the IBM Thomas J. Watson Research Center, Yorktown Heights, New York, March 22-24, 1978
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| Autres auteurs: | |
| Format: | Livre papier |
| Langue: | Anglais |
| Publié: |
New York ; Oxford ; Paris [etc.] :
Pergamon Press
C 1978.
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| Sujets: | |
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Orléans - OSUC
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| Livres 1er étage | 546.68 PAN | Disponible |