ETUDE COMPARATIVE DES DEFAUTS INDUITS PAR LES IONS DANS LES SEMICONDUCTEURS : PRINCIPALES APPLICATIONS
L'ETUDE DES PHENOMENES MIS EN JEU DANS L'INTERACTION DES PARTICULES CHARGEES OU NON AVEC LA MATIERE OCCUPE UNE PLACE SANS CESSE CROISSANTE SURTOUT DANS LE DOMAINE DE L'ELECTRONIQUE. LES DEFAUTS PRODUITS LORS DE L'IMPLANTATION ONT DES REPERCUSSIONS SUR LES PROPRIETES ELECTRIQUES D...
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
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| Další autoři: | |
| Médium: | Thèse et Mémoire papier |
| Jazyk: | Français |
| Vydáno: |
[S.l.] :
[s.n.]
1996.
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| Témata: | |
| Poznámka: |
1996ORLE2009 |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Variante du titre: | STUDY OF DEFECTS INDUCED BY LIGHT ION IMPLANTATION IN SEMICONDUCTORS: PRINCIPAL APPLICATIONS |
Orléans - BU Sciences Technologies STAPS
| Umístění | Signatura | Type de prêt | Stav | |
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| Magasin | TS 19-1996-9 b |
A consulter sur place
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| Magasin | TS 19-1996-9 | Dostupné |