Méthodes nouvelles pour diagnostiquer l’idiotie, l’imbécillité et la débilité mentale

Aux sources de l’invention de ces deux auteurs, ‘l’Échelle métrique de l’intelligence’, liée notamment aux débuts de la scolarité pour tous. Échelle qui sera assez vite utilisée outre-Atlantique (et déformée) via les ‘tests de quotient intellectuel (QI)’.

সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রকাশিত:URI:https://journals.openedition.org/bibnum,
প্রধান লেখক: Klein, Alexandre
বিন্যাস: Article ou chapitre numérique
ভাষা:Français
প্রকাশিত: BibNum 2023
অনলাইন ব্যবহার করুন:Accès Université d'Orléans et IFPM
Accès Université d'Orléans et IFPM

অনুরূপ উপাদানগুলি