Méthodes nouvelles pour diagnostiquer l’idiotie, l’imbécillité et la débilité mentale

Aux sources de l’invention de ces deux auteurs, ‘l’Échelle métrique de l’intelligence’, liée notamment aux débuts de la scolarité pour tous. Échelle qui sera assez vite utilisée outre-Atlantique (et déformée) via les ‘tests de quotient intellectuel (QI)’.

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Auteur principal: Klein, Alexandre
Format: Article ou chapitre numérique
Langue:Français
Publié: BibNum 2023
Accès en ligne:Accès Université d'Orléans et IFPM
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Description
Résumé:Aux sources de l’invention de ces deux auteurs, ‘l’Échelle métrique de l’intelligence’, liée notamment aux débuts de la scolarité pour tous. Échelle qui sera assez vite utilisée outre-Atlantique (et déformée) via les ‘tests de quotient intellectuel (QI)’.