Microelectronics reliability
Salvato in:
| Ente Autore: | Elsevier. Pergamon (Direttore editoriale) |
|---|---|
| Altri autori: | Stojadinović, N. D. (Redattore), Pecht, M. G. (Redattore) |
| Natura: | Revue numérique |
| Lingua: | Anglais |
| Pubblicazione: |
Amsterdam :
Elsevier Science
199.-.
|
| Accesso online: | Accès sur la plateforme de l'éditeur : Elsevier Accès sur la plateforme ISTEX : Elsevier Accès Université d'Orléans et IFPM Accès INSA CVL |
| Nota: |
Titre provenant de l'écran-titre Articles mis en ligne par ScienceDirect Elsevier (Licence nationale) Elsevier (Licence nationale) The Keepers Registry Type of computer file: Articles en texte intégral au format html ou pdf |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| État de collection: | Revue électronique, (2001) - (1964)180339901, (2001) - (1964) |
| Variante du titre: | Microelectronics and reliability |
| Edition sous un autre format: | • Microelectronics and reliability (Print), 0026-2714 |
Documenti analoghi
- Microelectronics Reliability. (Revue numérique)
- Microelectronics. (Revue numérique)
-
Microelectronics international.
(Revue numérique)
MCB University Press, 1995 -
Mechanics of Microelectronics
(Livre numérique)
Zhang, G. Q. -
Russian microelectronics.
(Revue numérique)
Pleiades Publishing, 1992