Microelectronics reliability
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| Autres auteurs: | , |
| Format: | Revue numérique |
| Langue: | Anglais |
| Publié: |
Amsterdam :
Elsevier Science
199.-.
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| Accès en ligne: | Accès sur la plateforme de l'éditeur : Elsevier Accès sur la plateforme ISTEX : Elsevier Accès Université d'Orléans et IFPM Accès INSA CVL |
| Note: |
Titre provenant de l'écran-titre Articles mis en ligne par ScienceDirect Elsevier (Licence nationale) Elsevier (Licence nationale) The Keepers Registry Type of computer file: Articles en texte intégral au format html ou pdf |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| État de collection: | Revue électronique, (2001) - (1964)180339901, (2001) - (1964) |
| Variante du titre: | Microelectronics and reliability |
| Edition sous un autre format: | • Microelectronics and reliability (Print), 0026-2714 |
| Description: | Titre provenant de l'écran-titre Articles mis en ligne par ScienceDirect Elsevier (Licence nationale) Elsevier (Licence nationale) The Keepers Registry Type of computer file: Articles en texte intégral au format html ou pdf |
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| Fréquence de publication: | Mensuel |
| Format: | Configuration requise : navigateur Internet, Adobe Acrobat Reader |
| ISSN: | 1872941X 0026-2714 |
| Accès: | Accès en ligne pour les établissements français bénéficiaires des licences nationales Conditions particulières de réutilisation pour les bénéficiaires des licences nationales. https://www.licencesnationales.fr/elsevier-contrat-licence-ln-2013 |