Neural Models and Algorithms for Digital Testing

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile Nagusiak: Chakradhar, Srimat T., Bushnell, Michael Lee, 1950- (Egilea), Agrawal, Vishwani D. (Egilea)
Formatua: Livre numérique
Hizkuntza:Anglais
Argitaratua: Cham : Springer International Publishing [20..].
Cham : Springer Nature
Sarrera elektronikoa:Accès sur la plateforme de l'éditeur
Accès sur la plateforme Istex
Accès Université d'Orléans
Accès INSA CVL
Oharra: Archives Springer e-books (Licence nationale)
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Edition sous un autre format:• Neural Models and Algorithms for Digital Testing, 978-1-4613-6767-3

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