Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Gorde:
| Egile Nagusiak: | Chakradhar, Srimat T., Bushnell, Michael Lee, 1950- (Egilea), Agrawal, Vishwani D. (Egilea) |
|---|---|
| Formatua: | Livre numérique |
| Hizkuntza: | Anglais |
| Argitaratua: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Sarrera elektronikoa: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Oharra: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Neural Models and Algorithms for Digital Testing, 978-1-4613-6767-3 |
Antzeko izenburuak
-
Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
(Livre numérique)
Bushnell, Michael Lee, 1950-, et al. -
Innovative Topologies and Algorithms for Neural Networks
(Livre numérique)
MDPI - Multidisciplinary Digital Publishing Institute, 2021 -
Algorithms for Synthesis and Testing of Asynchronous Circuits
(Livre numérique)
Lavagno, Luciano, 1959-, et al. -
Digital Disruption in Teaching and Testing
(Livre numérique)
Taylor & Francis, 2022 -
Models for Uncertainty in Educational Testing
(Livre numérique)
Longford, Nicholas T.

