Neural Models and Algorithms for Digital Testing

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Podrobná bibliografie
Hlavní autoři: Chakradhar, Srimat T., Bushnell, Michael Lee, 1950- (Autor), Agrawal, Vishwani D. (Autor)
Médium: Livre numérique
Jazyk:Anglais
Vydáno: Cham : Springer International Publishing [20..].
Cham : Springer Nature
On-line přístup:Accès sur la plateforme de l'éditeur
Accès sur la plateforme Istex
Accès Université d'Orléans
Accès INSA CVL
Poznámka: Archives Springer e-books (Licence nationale)
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Edition sous un autre format:• Neural Models and Algorithms for Digital Testing, 978-1-4613-6767-3
Popis
Popis jednotky:Archives Springer e-books (Licence nationale)
Archives Springer e-books (Licence nationale)
ISBN:9781461539582
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