Applied Optical Measurements

Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Autres auteurs: Mewes, Dieter (Collaborateur), Lehner, Markus (Collaborateur)
Format: Livre numérique
Langue:Anglais
Publié: Cham : Springer International Publishing [20..].
Cham : Springer Nature
Accès en ligne:Accès sur la plateforme de l'éditeur
Accès sur la plateforme Istex
Accès Université d'Orléans
Accès INSA CVL
Note: Archives Springer e-books (Licence nationale)
Archives Springer e-books (Licence nationale)
Autres localisations: Voir dans le Sudoc
Edition sous un autre format:• Applied Optical Measurements, 978-3-642-63620-2

Documents similaires