Field-Ion Microscopy
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| Auteur principal: | Wagner, R. |
|---|---|
| Format: | Livre numérique |
| Langue: | Anglais |
| Publié: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Accès en ligne: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Note: |
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| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Field-Ion Microscopy, 978-3-642-68689-4 |
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