Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV : Proceedings of the Fourth International Conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983
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| Outros Autores: | Benninghoven, A. (Collaborateur), Okano, J. (Collaborateur), Shimizu, R. (Collaborateur), Werner, H. W. (Collaborateur) |
|---|---|
| Formato: | Livre numérique |
| Idioma: | Anglais |
| Publicado em: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Acesso em linha: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Nota: |
Autre(s) contributeur(s) : H. W. Werner Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
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| Edition sous un autre format: | • Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV, Proceedings of the Fourth International Conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983 |
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