Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV : Proceedings of the Fourth International Conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983
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| Otros Autores: | , , , |
|---|---|
| Formato: | Livre numérique |
| Lenguaje: | Anglais |
| Publicado: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Acceso en línea: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Nota: |
Autre(s) contributeur(s) : H. W. Werner Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV, Proceedings of the Fourth International Conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983 |
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| 506 | |a Accès en ligne pour les établissements français bénéficiaires des licences nationales | ||
| 506 | |a Accès soumis à abonnement pour tout autre établissement | ||
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