Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV : Proceedings of the Fourth International Conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983

Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Autres auteurs: Benninghoven, A. (Collaborateur), Okano, J. (Collaborateur), Shimizu, R. (Collaborateur), Werner, H. W. (Collaborateur)
Format: Livre numérique
Langue:Anglais
Publié: Cham : Springer International Publishing [20..].
Cham : Springer Nature
Accès en ligne:Accès sur la plateforme de l'éditeur
Accès sur la plateforme Istex
Accès Université d'Orléans
Accès INSA CVL
Note: Autre(s) contributeur(s) : H. W. Werner
Archives Springer e-books (Licence nationale)
Archives Springer e-books (Licence nationale)
Autres localisations: Voir dans le Sudoc
Edition sous un autre format:• Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV, Proceedings of the Fourth International Conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983
Description
Description:Autre(s) contributeur(s) : H. W. Werner
Archives Springer e-books (Licence nationale)
Archives Springer e-books (Licence nationale)
ISBN:9783642822568
Accès:Accès en ligne pour les établissements français bénéficiaires des licences nationales
Accès soumis à abonnement pour tout autre établissement
Conditions particulières de réutilisation pour les bénéficiaires des licences nationales. https://www.licencesnationales.fr/springer-nature-ebooks-contrat-licence-ln-2017