Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope
Within the last 30 years, electron energy-loss spectroscopy (EELS) has become a standard analytical technique used in the transmission electron microscope to extract chemical and structural information down to the atomic level. In two previous editions, Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Elec...
保存先:
| 第一著者: | Egerton, Ray F., 19..-...., physicien |
|---|---|
| フォーマット: | Livre numérique |
| 言語: | Anglais |
| 出版事項: |
Boston, MA :
Springer US
2011.
Cham : Springer Nature |
| オンライン・アクセス: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| 注記: |
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| Edition sous un autre format: | • Electron energy-loss spectroscopy in the electron microscope, R. F. Egerton, 3rd edition, 2011, [New York etc.], Springer, 1 vol. (XII-491 p.), 978-1-441-99582-7 |
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