Applied RHEED : reflection high-energy electron diffraction during crystal growth

The book describes RHEED (reflection high-energy electron diffraction) used as a tool for crystal growth. New methods using RHEED to characterize surfaces and interfaces during crystal growth by MBE (molecular beam epitaxy) are presented. Special emphasis is put on RHEED intensity oscillations, segr...

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Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Braun, Wolfgang, 19..-
Médium: Livre numérique
Jazyk:Anglais
Vydáno: Berlin [etc.] : Springer [20..].
Cham : Springer Nature
Edice:Springer tracts in modern physics 154
Témata:
On-line přístup:Accès sur la plateforme de l'éditeur
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Accès Université d'Orléans
Accès INSA CVL
Poznámka: Archives Springer e-books (Licence nationale)
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Edition sous un autre format:• Applied RHEED, reflection high-energy electron diffraction during crystal growth, Wolfgang Braun, 1999, Berlin, Springer, 1 vol. (IX-216 p., [2] p. de pl), Springer tracts in modern physics, 3-540-65199-3
• Applied RHEED, Texte imprimé, 9783662156131
• Applied RHEED, Texte imprimé, 9783662156148
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505 0 |a MBE-grown semiconductor interfaces -- Reflection high-energy electron diffraction (RHEED) -- RHEED oscillations -- Semikinematical simulations of RHEED patterns -- Kikuchi lines -- RHEED with rotating substrates -- Reconstruction-induced phase shifts of RHEED oscillations -- Energy loss spectroscopy during growth -- Phase shifts: Models -- Applications of reconstruction-induced phase shifts -- Closing remarks. 
506 |a Accès en ligne pour les établissements français bénéficiaires des licences nationales 
506 |a Accès soumis à abonnement pour tout autre établissement 
506 |a Conditions particulières de réutilisation pour les bénéficiaires des licences nationales. https://www.licencesnationales.fr/springer-nature-ebooks-contrat-licence-ln-2017 
520 |a The book describes RHEED (reflection high-energy electron diffraction) used as a tool for crystal growth. New methods using RHEED to characterize surfaces and interfaces during crystal growth by MBE (molecular beam epitaxy) are presented. Special emphasis is put on RHEED intensity oscillations, segregation phenomena, electron energy-loss spectroscopy and RHEED with rotating substrates. 
650 |a Épitaxie par faisceaux moléculaires 
650 |a Croissance cristalline 
650 |a Matière condensée 
650 |a Physique 
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