Tolan, M. X-ray scattering from soft-matter thin films: Materials science and basic research. Springer.
Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)Tolan, Metin. X-ray Scattering from Soft-matter Thin Films: Materials Science and Basic Research. Berlin [etc.]: Springer.
Цитирование MLA (8-е изд.)Tolan, Metin. X-ray Scattering from Soft-matter Thin Films: Materials Science and Basic Research. Springer.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.