Reliability of Microtechnology : Interconnects, Devices and Systems

Reliability of Microtechnology discusses the reliability of microtechnology products from the bottom up, beginning with devices and extending to systems. The book's focus includes but is not limited to reliability issues of interconnects, the methodology of reliability concepts and general fail...

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Auteurs principaux: Liu, Johan, Salmela, Olli (Auteur), Sarkka, Jussi (Auteur), Morris, James E., 1944- (Auteur), Tegehall, Per-Erik, 19..- (Auteur), Andersson, Cristina (Auteur)
Format: Livre numérique
Langue:Anglais
Publié: New York, NY : Springer New York : Imprint: Springer [20..].
Cham : Springer Nature
Édition:1.
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Note: Archives Springer e-books (Licence nationale)
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Edition sous un autre format:• Reliability of Microtechnology, Texte imprimé, 9781441957597

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