Nanoscale memory repair
Yield and reliability of memories have degraded with device and voltage scaling in the nano-scale era, due to ever-increasing hard/soft errors and device parameter variations. As a result, repair techniques have been indispensable for nano-scale memories. Without these techniques, even modern MPUs/...
Guardat en:
| Autors principals: | , |
|---|---|
| Format: | Livre numérique |
| Idioma: | Anglais |
| Publicat: |
New York, NY :
Springer New York
2011.
Cham : Springer Nature |
| Col·lecció: | Integrated Circuits and Systems
|
| Accés en línia: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Nota: |
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| Edition sous un autre format: | • Nanoscale Memory Repair, Texte imprimé, 9781441979575 • Nanoscale Memory Repair, Texte imprimé, 9781461427940 • Nanoscale Memory Repair, Texte imprimé, 9781441979599 |