Point Defects in Semiconductors and Insulators : Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions
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| Autors principals: | , |
|---|---|
| Format: | Livre numérique |
| Idioma: | Anglais |
| Publicat: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
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| Nota: |
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| Edition sous un autre format: | • Point Defects in Semiconductors and Insulators, Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions |