Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Bewaard in:
| Hoofdauteurs: | , |
|---|---|
| Formaat: | Livre numérique |
| Taal: | Anglais |
| Gepubliceerd in: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Online toegang: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Opmerking: |
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| Edition sous un autre format: | • Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials, 978-3-662-04518-3 |