Fault Injection Techniques and Tools for Embedded Systems Reliability Evaluation
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| その他の著者: | , |
|---|---|
| フォーマット: | Livre numérique |
| 言語: | Anglais |
| 出版事項: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| オンライン・アクセス: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| 注記: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Fault injection techniques and tools for embedded systems reliability evaluation, ed. by Alfredo Benso,... and Paolo Prinetto,..., Boston, Kluwer academic publ., 2003, 1 volume (xiv-241 pages), Frontiers in electronic testing, 1-4020-7589-8 |
| LEADER | 01932nam a22003017a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 961023 | ||
| 008 | 190906q2000 xxe ||| |||| 00| 0 eng d | ||
| 009 | PPN237950251 | ||
| 020 | |a 9780306487118 | ||
| 024 | |a 9780306487118 | ||
| 041 | 0 | |a eng | |
| 082 | |a 004.256 | ||
| 245 | 0 | 0 | |a Fault Injection Techniques and Tools for Embedded Systems Reliability Evaluation |c Alfredo Benso, Paolo Prinetto. |
| 260 | |a Cham : |b Springer International Publishing. | ||
| 260 | |a Cham : |b Springer Nature, |c [20..]. | ||
| 500 | |a Archives Springer e-books (Licence nationale) | ||
| 500 | |a Archives Springer e-books (Licence nationale) | ||
| 506 | |a Accès en ligne pour les établissements français bénéficiaires des licences nationales | ||
| 506 | |a Accès soumis à abonnement pour tout autre établissement | ||
| 506 | |a Conditions particulières de réutilisation pour les bénéficiaires des licences nationales. https://www.licencesnationales.fr/springer-nature-ebooks-contrat-licence-ln-2017 | ||
| 700 | 1 | |a Prinetto, Paolo. |4 clb | |
| 700 | 1 | |a Benso, Alfredo. |4 clb | |
| 776 | 0 | |0 078870224 |t Fault injection techniques and tools for embedded systems reliability evaluation |f ed. by Alfredo Benso,... and Paolo Prinetto,... |c Boston |n Kluwer academic publ. |d 2003 |p 1 volume (xiv-241 pages) |s Frontiers in electronic testing |z 1-4020-7589-8 | |
| 856 | 4 | |q PDF |u https://doi.org/10.1007/b105828 |z Accès sur la plateforme de l'éditeur | |
| 856 | 4 | |u https://revue-sommaire.istex.fr/ark:/67375/8Q1-FHQVXTSH-W |z Accès sur la plateforme Istex | |
| 856 | 4 | |5 452349901:749587474 |u https://ezproxy.univ-orleans.fr/login?url=https://doi.org/10.1007/b105828 |z Accès Université d'Orléans | |
| 856 | 4 | |5 180339901:752335987 |u https://ezproxy.insa-cvl.fr/login?qurl=https://doi.org/10.1007/b105828 |z Accès INSA CVL | |
| 997 | |0 961023 |1 Livre numérique |a Ressource numérique |b INSA |b ENSA |c 0/Bibliothèque numérique/ |c 1/Bibliothèque numérique/Autre ressource numérique/ | ||

