Singh, N. An Artificial Intelligence Approach to Test Generation. Springer International Publishing.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Singh, Narinder. An Artificial Intelligence Approach to Test Generation. Cham: Springer International Publishing.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 8)Singh, Narinder. An Artificial Intelligence Approach to Test Generation. Springer International Publishing.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.