Singh, N. An Artificial Intelligence Approach to Test Generation. Springer International Publishing.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Singh, Narinder. An Artificial Intelligence Approach to Test Generation. Cham: Springer International Publishing.
Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)Singh, Narinder. An Artificial Intelligence Approach to Test Generation. Springer International Publishing.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.