Singh, N. An Artificial Intelligence Approach to Test Generation. Springer International Publishing.
শিকাগো স্টাইল (17 তম সংস্করণ) উদ্ধৃতিSingh, Narinder. An Artificial Intelligence Approach to Test Generation. Cham: Springer International Publishing.
M.L.A (8 ম সংস্করণ) উদ্ধৃতিSingh, Narinder. An Artificial Intelligence Approach to Test Generation. Springer International Publishing.
সতর্কবাণী: সাইটেশন সবসময় 100% নির্ভুল হতে পারে না.