High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test

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Autor principal: Adams, R. Dean
Format: Livre numérique
Idioma:Anglais
Publicat: Cham : Springer International Publishing [20..].
Cham : Springer Nature
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Edition sous un autre format:• High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test, 978-1-4020-7255-0

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