Characterization Methods for Submicron MOSFETs
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| Outros Autores: | |
|---|---|
| Formato: | Livre numérique |
| Idioma: | Anglais |
| Publicado em: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Acesso em linha: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Nota: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Characterization Methods for Submicron MOSFETs, 978-1-4612-8584-7 |
| Descrição do item: | Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
|---|---|
| ISBN: | 9781461313557 |
| Acesso: | Accès en ligne pour les établissements français bénéficiaires des licences nationales Accès soumis à abonnement pour tout autre établissement Conditions particulières de réutilisation pour les bénéficiaires des licences nationales. https://www.licencesnationales.fr/springer-nature-ebooks-contrat-licence-ln-2017 |