Built-in-self-test and digital self-calibration for RF SoCs

This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These circuits are used in current and emerging communication, computin...

Descrición completa

Gardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Bou-Sleiman, Sleiman
Outros autores: Ismail, Mohammed (Directeur de la publication)
Formato: Livre numérique
Idioma:Anglais
Publicado: New York, NY : Springer New York 2012.
Cham : Springer Nature
Series:SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering
Sujets:
Acceso en liña:Accès sur la plateforme de l'éditeur
Accès sur la plateforme Istex
Accès Université d'Orléans
Accès INSA CVL
Nota: Archives Springer e-books (Licence nationale)
Archives Springer e-books (Licence nationale)
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Edition sous un autre format:• Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs, Texte imprimé, 9781441995476
• Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs, Texte imprimé, 9781441995490
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500 |a Archives Springer e-books (Licence nationale) 
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505 0 |a Introduction and Motivation -- Radio Systems Overview: Architecture, Performance and Built-in-Test -- Efficient Testing for RF SoCs -- RF Built-in-Self-Test -- RF Built-in-Self-Calibration -- Conclusions. 
506 |a Accès en ligne pour les établissements français bénéficiaires des licences nationales 
506 |a Accès soumis à abonnement pour tout autre établissement 
506 |a Conditions particulières de réutilisation pour les bénéficiaires des licences nationales. chttps://www.licencesnationales.fr/springer-nature-ebooks-contrat-licence-ln-2017 
520 |a This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These circuits are used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume. . 
650 |a Ingénierie des systèmes 
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