Life-Cycle Assessment of Semiconductors
Life-Cycle Assessment of Semiconductors presents the first and thus far only available transparent and complete life cycle assessment of semiconductor devices. A lack of reliable semiconductor LCA data has been a major challenge to evaluation of the potential environmental benefits of information te...
Enregistré dans:
| Auteur principal: | Boyd, Sarah B. |
|---|---|
| Format: | Livre numérique |
| Langue: | Anglais |
| Publié: |
New York, NY :
Springer New York
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Édition: | 1st ed. 2012. |
| Accès en ligne: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Note: |
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| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Life-Cycle Assessment of Semiconductors, Texte imprimé, 9781441999870 |
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