Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits
保存先:
| 主要な著者: | Leblebici, Yusuf, 19..-...., informaticien, Kang, Sung-Mo (Steve) (著者) |
|---|---|
| フォーマット: | Livre numérique |
| 言語: | Anglais |
| 出版事項: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| オンライン・アクセス: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| 注記: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits, 978-1-4613-6429-0 |
類似資料
-
Reliability of Nanoscale Circuits and Systems : Methodologies and Circuit Architectures
(Livre numérique)
Stanisavljevic, Milos, 19..-, 等
Springer New York, 2011 - Process and Device Simulation for MOS-VLSI Circuits (Livre numérique)
-
Switch-Level Timing Simulation of MOS VLSI Circuits
(Livre numérique)
Rao, Vasant B., 等 -
Statistical Modeling for Computer-Aided Design of MOS VLSI Circuits
(Livre numérique)
Michael, Christopher, 等 -
Conception des circuits VLSI : du composant au système
(Livre numérique)
Anceau, François, 1940-2020, informaticien, 等
Dunod, 2007

