Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits

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書誌詳細
主要な著者: Leblebici, Yusuf, 19..-...., informaticien, Kang, Sung-Mo (Steve) (著者)
フォーマット: Livre numérique
言語:Anglais
出版事項: Cham : Springer International Publishing [20..].
Cham : Springer Nature
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Accès sur la plateforme Istex
Accès Université d'Orléans
Accès INSA CVL
注記: Archives Springer e-books (Licence nationale)
Archives Springer e-books (Licence nationale)
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Edition sous un autre format:• Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits, 978-1-4613-6429-0

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