Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II : Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27-31, 1979
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|---|---|
| Format: | Livre numérique |
| Language: | Anglais |
| Published: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Online Access: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Note: |
Autre(s) contributeur(s) : R. Shimizu, H. A. Storms Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
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| Edition sous un autre format: | • Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II, Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27-31, 1979 |