Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II : Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27-31, 1979

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書誌詳細
その他の著者: Benninghoven, A. (共編者), Evans, C. A. (共編者), Storms, H. A. (共編者), Powell, R. A. (共編者), Shimizu, R. (共編者)
フォーマット: Livre numérique
言語:Anglais
出版事項: Cham : Springer International Publishing [20..].
Cham : Springer Nature
オンライン・アクセス:Accès sur la plateforme de l'éditeur
Accès sur la plateforme Istex
Accès Université d'Orléans
Accès INSA CVL
注記: Autre(s) contributeur(s) : R. Shimizu, H. A. Storms
Archives Springer e-books (Licence nationale)
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Edition sous un autre format:• Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II, Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27-31, 1979
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506 |a Accès en ligne pour les établissements français bénéficiaires des licences nationales 
506 |a Accès soumis à abonnement pour tout autre établissement 
506 |a Conditions particulières de réutilisation pour les bénéficiaires des licences nationales. https://www.licencesnationales.fr/springer-nature-ebooks-contrat-licence-ln-2017 
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