Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II : Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27-31, 1979

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Tác giả khác: Benninghoven, A. (Cộng tác viên), Evans, C. A. (Cộng tác viên), Storms, H. A. (Cộng tác viên), Powell, R. A. (Cộng tác viên), Shimizu, R. (Cộng tác viên)
Định dạng: Livre numérique
Ngôn ngữ:Anglais
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Edition sous un autre format:• Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II, Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27-31, 1979
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Mô tả sách:Autre(s) contributeur(s) : R. Shimizu, H. A. Storms
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số ISBN:9783642618710
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