High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Pietsch, Ullrich, Baumbach, Tilo, 1961- (Autor), Holý, Václav (Autor)
Formato: Livre numérique
Lenguaje:Anglais
Publicado: Cham : Springer International Publishing [20..].
Cham : Springer Nature
Acceso en línea:Accès sur la plateforme de l'éditeur
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Accès Université d'Orléans
Accès INSA CVL
Nota: Archives Springer e-books (Licence nationale)
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Edition sous un autre format:• High-Resolution X-Ray Scattering, From Thin Films to Lateral Nanostructures

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