Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon
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| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | Livre numérique |
| Idioma: | Anglais |
| Publicado em: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Acesso em linha: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Nota: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon, 978-3-7091-7204-9 |