Advanced Computing in Electron Microscopy
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | Kirkland, Earl J. |
|---|---|
| التنسيق: | Livre numérique |
| اللغة: | Anglais |
| منشور في: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| الوصول للمادة أونلاين: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| ملاحظة: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Advanced Computing in Electron Microscopy, 978-1-4757-4408-8 |
مواد مشابهة
-
Advanced Computing in Electron Microscopy
(Livre numérique)
Kirkland, Earl J. - Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy (Livre numérique)
-
Electron Microscopy
(Livre numérique)
IntechOpen, 2021 - Electron Microscopy of Nanotubes (Livre numérique)
-
Electron microscopy reviews.
(Revue numérique)
Elsevier, 2004

