C2I 2001 : [actes du colloque interdisciplinaire en instrumentation], 31 janvier-1er février 2001, Conservatoire national des arts et métiers, Paris Systèmes et microsystèmes pour la caractérisation

C2I 2001 : [actes du colloque interdisciplinaire en instrumentation], 31 janvier-1er février 2001, Conservatoire national des arts et métiers, Paris Volume 2, Systèmes et microsystèmes pour la caractérisation

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Autor corporatiu: Colloque interdisciplinaire en instrumentation :Paris
Altres autors: Lepoutre, François (Director editorial), Surrel, Yves, 1956- (Director editorial), Placko, Dominique (Director editorial)
Format: Livre papier
Idioma:Français
Publicat: Paris : Hermès science publications DL 2001.
Matèries:
Microtechniques
Mesure > Instruments
Mesures physiques > Instruments
Actes de congrès
Nota: Préface : "En 1998 l'ENS Cachan avait lancé le Colloque Instrumentation et Interdisciplinarité (C2I) [...]. En 2001, L'Institut National de Métrologie du Bureau National de Métrologie organise une deuxième édition de cette manifestion dans le cadre du CNAM [...]"
Résumés en français et en anglais
Autres localisations: Voir dans le Sudoc
Variante du titre:Systèmes et microsystèmes pour la caractérisation

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