Acoustic scanning probe microscopy
The combination of atomic force microscopy with ultrasonic methods allows the nearfield detection of acoustic signals. The nondestructive characterization and nanoscale quantitative mapping of surface adhesion and stiffness or friction is possible. The aim of this book is to provide a comprehensive...
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| Hovedforfatter: | |
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| Andre forfattere: | , |
| Format: | Livre numérique |
| Sprog: | Anglais |
| Udgivet: |
Berlin, Heidelberg :
Springer Berlin Heidelberg
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Udgivelse: | 1st ed. 2013. |
| Serier: | NanoScience and Technology
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| Online adgang: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Kommentar: |
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| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Acoustic Scanning Probe Microscopy, Texte imprimé, 9783642274930 • Acoustic Scanning Probe Microscopy, Texte imprimé, 9783642430794 • Acoustic Scanning Probe Microscopy, Texte imprimé, 9783642274954 |