Sputtering by Particle Bombardment : Experiments and Computer Calculations from Threshold to MeV Energies

This volume gives a comprehensive overview about the physical processes causing sputtering of solids at bombardment with energetic ions. The most important quantities are the sputtering yields, i.e. the average number of atoms eroded per incident ion. The latest results for the sputtering yields and...

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書目詳細資料
主要作者: Behrisch, Rainer, 1934-2011
其他作者: Eckstein, Wolfgang, 1935- (Directeur de la publication)
格式: Livre numérique
語言:Anglais
出版: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg [20..].
Cham : Springer Nature
版:1st ed. 2007.
叢編:Topics in Applied Physics 110
主題:
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提示: Archives Springer e-books (Licence nationale)
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Edition sous un autre format:• Sputtering by particle bombardment, experiments and computer calculations from threshold to MeV energies, Rainer Behrisch, Wolfgang Eckstein (eds.), Berlin, Springer, 2007, 1 vol. (XVII-507 p.), Topics in applied physics, 978-3-540-44500-5
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250 |a 1st ed. 2007. 
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500 |a Archives Springer e-books (Licence nationale) 
500 |a Archives Springer e-books (Licence nationale) 
505 1 |a and Overview Computer Simulation of the Sputtering Process Sputtering Yields Results of Molecular Dynamics Calculations Energy and Angular Distributions of Sputtered Species Chemical Sputtering Electronic Sputtering with Swift Heavy Ions 
506 |a Accès en ligne pour les établissements français bénéficiaires des licences nationales 
506 |a Accès soumis à abonnement pour tout autre établissement 
506 |a Conditions particulières de réutilisation pour les bénéficiaires des licences nationales. https://www.licencesnationales.fr/springer-nature-ebooks-contrat-licence-ln-2017 
520 |a This volume gives a comprehensive overview about the physical processes causing sputtering of solids at bombardment with energetic ions. The most important quantities are the sputtering yields, i.e. the average number of atoms eroded per incident ion. The latest results for the sputtering yields and their dependence on the incident energy and angle of incidence, as well as the energy and angular distributions of the sputtered atoms are presented. This concerns experimentally determined yields as well as a critical evaluation of the computational methods used to calculate the yields and distributions. The energies of the incident ions cover the range between a few eV up to several MeV. The influence of chemical effects between the incident ions and the atoms of the bombarded solid on the sputtering yields are also reviewed 
650 |a Pulvérisation cathodique 
650 |a Bombardement ionique 
650 |a Chimie 
650 |a Surfaces (technologie) 
700 1 |a Eckstein, Wolfgang,  |d 1935-  |4 pbd 
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