Radiation Effects on Embedded Systems

Radiation Effects on Embedded Systems aims at providing the reader with the major guidelines for coping with radiation effects on components supposed to be included in today s applications devoted to operate in space, but also in the atmosphere at high altitude or at ground level. It contains a set...

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التفاصيل البيبلوغرافية
التنسيق: Livre numérique
اللغة:Anglais
منشور في: Dordrecht : Springer Netherlands 2007.
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ملاحظة: L'accès complet à la ressource est réservé aux usagers des établissements qui en ont fait l'acquisition
Archives Springer e-books (Licence nationale)
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Edition sous un autre format:• Radiation effects on embedded systems, edited by Raoul Velazco, Pascal Fouillat and Ricardo Reis, Dordrecht, Springer, 2007, 1 vol. (VIII-269 p.), 978-1-402-05645-1
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505 1 |a Radiation Space Environment Radiation Effects in Microelectronics In-flight Anomalies on Electronic Devices Multi-level Fault Effects Evaluation Effects of Radiation on Analog and Mixed-Signal Circuits Fundamentals of the Pulsed Laser Technique for Single-Event Upset Testing Design Hardening Methodologies for ASICs Fault Tolerance in Programmable Circuits Automatic Tools for Design Hardening Test Facilities for SEE and Dose Testing Error Rate Prediction of Digital Architectures: Test Methodology and Tools Using the SEEM Software for Laser SET Testing and Analysis. 
506 |a Accès en ligne pour les établissements français bénéficiaires des licences nationales 
506 |a Accès soumis à abonnement pour tout autre établissement 
506 |a Conditions particulières de réutilisation pour les bénéficiaires des licences nationales. https://www.licencesnationales.fr/springer-nature-ebooks-contrat-licence-ln-2017 
520 |a Radiation Effects on Embedded Systems aims at providing the reader with the major guidelines for coping with radiation effects on components supposed to be included in today s applications devoted to operate in space, but also in the atmosphere at high altitude or at ground level. It contains a set of chapters based on the tutorials presented at the International School on Effects of Radiation on Embedded Systems for Space Applications (SERESSA) that was held in Manaus, Brazil, from 20 to 25 November 2005. This book will provide all IC engineers with useful information regarding outside (environmental) influences on their designs and is an excellent reference. 
538 |a Nécessite un lecteur de fichier PDF 
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