Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée. [Volume 2]

"Par son approche interdisciplinaire, la mécatronique permet l intégration en synergie de la mécanique, de l électronique, de l automatique et de l informatique dans la conception et la fabrication d un produit en vue d optimiser sa fonctionnalité. Cet ouvrage étudie la détection des défauts de...

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux: Dahoo, Pierre Richard, 1957-...., chercheur en physique théorique, Pougnet, Philippe (Auteur)
Autres auteurs: El Hami, Abdelkhalak, 1962-...., enseignant en mécanique (Éditeur intellectuel)
Format: Livre papier
Langue:Français
Publié: London : ISTE editions 2016.
Collection:Génie mécanique et mécanique des solides. Série Fiabilité des systèmes multiphysiques volume 2
Sujets:
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