Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée. [Volume 2]
"Par son approche interdisciplinaire, la mécatronique permet l intégration en synergie de la mécanique, de l électronique, de l automatique et de l informatique dans la conception et la fabrication d un produit en vue d optimiser sa fonctionnalité. Cet ouvrage étudie la détection des défauts de...
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| Autors principals: | , |
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| Altres autors: | |
| Format: | Livre papier |
| Idioma: | Français |
| Publicat: |
London :
ISTE editions
2016.
|
| Col·lecció: | Génie mécanique et mécanique des solides. Série Fiabilité des systèmes multiphysiques
volume 2 |
| Matèries: | |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| LEADER | 02219nam a22002777a 4500 | ||
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| 100 | 1 | |a Dahoo, Pierre Richard, |d 1957-...., |c chercheur en physique théorique. | |
| 245 | 1 | 0 | |a Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée. |n [Volume 2] |c Pierre Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami. |
| 260 | |a London : |b ISTE editions, |c 2016. | ||
| 300 | |a 1 vol. (289 p.) : |b ill. en noir et en coul., couv. ill. en coul. ; |c 24 cm. | ||
| 490 | 0 | |a Génie mécanique et mécanique des solides. Série Fiabilité des systèmes multiphysiques |v volume 2 | |
| 504 | |a Bibliogr. p. [269]-284. Index | ||
| 520 | |a "Par son approche interdisciplinaire, la mécatronique permet l intégration en synergie de la mécanique, de l électronique, de l automatique et de l informatique dans la conception et la fabrication d un produit en vue d optimiser sa fonctionnalité. Cet ouvrage étudie la détection des défauts de matériaux par la lumière polarisée à partir d une analyse optimisée des données expérimentales basée sur des modèles statistiques et théoriques. Les méthodes mises en oeuvre dans le cadre de recherches fondamentales sur les matériaux innovants sont explicitement décrites. Défauts à l échelle nanométrique en lumière polarisée développe également les différentes théories sur la lumière, ses états de polarisation et son interaction avec la matière. Il présente les techniques optiques de type sonde et pompe-sonde qui permettent de caractériser les défauts des matériaux susceptibles d impacter la performance d un produit " [Source : 4e de couv.] | ||
| 650 | |a Mécatronique | ||
| 650 | |a Polarisation (lumière) | ||
| 650 | |a Détection de défaut (ingénierie) | ||
| 700 | 1 | |a Pougnet, Philippe. |4 aut | |
| 700 | 1 | |a El Hami, Abdelkhalak, |d 1962-...., |c enseignant en mécanique. |4 edt | |
| 997 | |0 597496 |1 Livre papier |a Ressource papier |c 0/Orléans/ |c 1/Orléans/BU Sciences, Technologies, STAPS/ |z Orléans, BU Sciences, Technologies, STAPS, 629.8 DAH | ||