Métrologie des nanoparticules dans un plasma froid capacitif basse pression : développement de diagnostics de métrologie des nanoparticules
La métrologie des nanoparticules est devenue un enjeu scientifique et industriel capital pour pouvoir contrôler les caractéristiques des nano-objets (taille, densité, etc.) dans les procédés industriels tant pour la qualité des produits fabriqués que pour la protection des personnes et de l environn...
שמור ב:
| מחבר ראשי: | |
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| מחברים אחרים: | , , , , , , |
| פורמט: | Thèse numérique |
| שפה: | Français |
| יצא לאור: |
2015.
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| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | Accès au texte intégral https://theses.univ-orleans.fr/public/2015ORLE2005_vm.pdf http://www.theses.fr/2015ORLE2005/abes https://theses.hal.science/tel-01265809 |
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Titre provenant de l'écran-titre Ecole(s) Doctorale(s) : École doctorale Énergie, Matériaux, Sciences de la Terre et de l'Univers (Centre-Val de Loire ; 2012-....) Partenaire(s) de recherche : Groupe de recherches sur l'énergétique des milieux ionisés. UMR 7344 (Orléans ; 2012-....) (Laboratoire) Autre(s) contribution(s) : Yann Vaills (Président du jury) ; Laïfa Boufendi, Yann Vaills, Philippe Guillot, Holger Vach, Titaïna Gibert, Philippe Belenguer, Christophe Dutouquet (Membre(s) du jury) ; Philippe Guillot, Holger Vach (Rapporteur(s)) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Variante du titre: | Low pressure cold plasma assisted nanoparticles metrology |