Nouvelle échelle métrique de l'intelligence. Technique d'application : Test de développement mental pour enfants de 3 à 14 ans

Nouvelle échelle métrique de l'intelligence. Test de développement mental pour enfants de 3 à 14 ans II, Technique d'application :

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux: Zazzo, René, 1910-1995, Gilly, Michel (Auteur), Verba Rad, Mina (Auteur)
Format: Livre papier
Langue:Français
Publié: Paris : Librairie Armand Colin : Ed. Bourrelier 1971.
Édition:4e édition.
Sujets:
Échelle de Binet-Simon
Enfants > Tests d'intelligence
Note: Test de développement mental pour les enfants de 3 à 14 ans.
Fonds de conservation ESPE CVL
Autres localisations: Voir dans le Sudoc
Variante du titre:Technique d'application, 2

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