Les fondements des approches fréquentielle et bayésienne : applications à la maîtrise du risque industriel

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Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Procaccia, Henri, 1939-2014
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: Institut pour la maîtrise des risques (Διευθυντής έκδοσης)
Άλλοι συγγραφείς: Lannoy, André (Συγγραφέας εισαγωγής κ.λπ.)
Μορφή: Livre papier
Γλώσσα:Français
Έκδοση: Paris : Éditions Tec & doc : Lavoisier DL 2008.
Σειρά:Sciences du risque et du danger. Série références
Θέματα:
Autres localisations: Voir dans le Sudoc
LEADER 01632nam a22002657a 4500
001 252443
008 080229t20082008xxe ||| |||| 00| 0 fre d
009 PPN121890058
020 |a 9782743010249 (br.) :  |c 70 EUR 
024 |a 9782743010249 
041 0 |a fre 
082 |a 519.5 
100 1 |a Procaccia, Henri,  |d 1939-2014. 
245 1 0 |a Les fondements des approches fréquentielle et bayésienne :  |b applications à la maîtrise du risque industriel   |c Henri Procaccia,... ; Institut pour la maîtrise des risques ; [préface de André Lannoy,...]. 
260 |a Paris :  |b Éditions Tec & doc :  |b Lavoisier,  |c DL 2008. 
300 |a 1 vol. (XIX-248 p.) :  |b ill., graph. ;  |c 24 cm. 
490 0 |a Sciences du risque et du danger. Série références 
504 |a Bibliographie p. 245. Index 
505 0 |a L'analyse théorique et pratique du retour d'expérience : l'estimation fréquentielle et bayésienne -- Les fondements de l'approche bayésienne et relation avec l'approche fréquentielle -- La décision statistique bayésienne en pratique -- Distribution du khi-deux -- La transformée de Laplace : l'estimation ponctuelle dans le cadre des essais de fiabilité de types I et II -- Les problèmes des moments et le théorème de de Finetti. 
650 |a Statistique bayésienne 
650 |a Fiabilité  |x Méthodes statistiques 
650 |a Risques industriels  |x Méthodes statistiques 
700 1 |a Lannoy, André.  |4 aui 
710 2 |a Institut pour la maîtrise des risques.  |4 pbd 
997 |0 252443  |1 Livre papier  |a Ressource papier  |c 0/Orléans/  |c 1/Orléans/BU Sciences, Technologies, STAPS/  |z Orléans, BU Sciences, Technologies, STAPS, 658 PRO