Les fondements des approches fréquentielle et bayésienne : applications à la maîtrise du risque industriel
保存先:
| 第一著者: | |
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| 団体著者: | |
| その他の著者: | |
| フォーマット: | Livre papier |
| 言語: | Français |
| 出版事項: |
Paris :
Éditions Tec & doc : Lavoisier
DL 2008.
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| シリーズ: | Sciences du risque et du danger. Série références
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| 主題: | |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| 物理的記述: | 1 vol. (XIX-248 p.) : ill., graph. ; 24 cm. |
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| 書誌: | Bibliographie p. 245. Index |
| ISBN: | 9782743010249 (br.) : |