Etude des défauts de structure par diffraction des rayons X sur poudres : :: SCD d'Orléans

$Etude des défauts de structure par diffraction des rayons X sur poudres : Utilisation d'un montage en réflexion asymétrique équipé d'un détecteur courbe à localisation$

Etude des défauts de structure par diffraction des rayons X sur poudres : Utilisation d'un montage en réflexion asymétrique équipé d'un détecteur courbe à localisation

CE TRAVAIL PRESENTE LA MISE EN OEUVRE D'UN DIFFRACTOMETRE DE LABORATOIRE A OPTIQUE PARALLELE ET DE METHODES D'ANALYSE MICROSTRUCTURALE PAR DIFFRACTION DES RAYONS X ADAPTEES AUX MATERIAUX CERAMIQUES NANOMETRIQUES. NOUS AVONS ETUDIE LES ABERRATIONS INSTRUMENTALES DU MONTAGE AINSI QUE LEURS E...

Descripció completa

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Dades bibliogràfiques
Autor principal:	Masson, Olivier, 1969-
Altres autors:	Dauger, Alain, 1942- (Directeur de thèse)
Format:	Thèse et Mémoire papier
Idioma:	Français
Publicat:	[S.l.] : [s.n.] 1998.
Matèries:	Rayons x > diffraction méthode de Rietweld Raies spectrales > Élargissement Cristaux > Défauts Thèses et écrits académiques
Nota:	Thèse : 1998LIMO0008
Autres localisations:	Voir dans le Sudoc
Variante du titre:	STRUCTURAL IMPERFECTIONS STUDY BY X-RAY POWDER DIFFRACTION BY USING AN ASYMMETRIC REFLECTION SETTING WITH CURVED POSITION SENSITIVE DETECTOR

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