Guide de préparation des échantillons pour la microscopie électronique en transmission. Tome I, Méthodologie
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| Hovedforfatter: | |
|---|---|
| Format: | Livre papier |
| Sprog: | Français |
| Udgivet: |
Saint-Étienne :
Publications de l'Université de Saint-Étienne
C 2007.
|
| Serier: | Intégrations
[9] |
| Fag: | |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
Indholdsfortegnelse:
- P. 23
- CHAPITRE 1 : INTRODUCTION AUX MATÉRIAUX.
- P. 23
- 1, Introduction.
- P. 23
- 1.1, Origine des matériaux.
- P. 23
- 1.2, Évolution des matériaux.
- P. 24
- 1.3, Problèmes généraux posés par l'étude de la microstructure.
- P. 28
- 2, Classification des matériaux et propriétés.
- P. 28
- 2.1, Type de liaisons chimiques : atomiques et moléculaires.
- P. 29
- 2.2, Type de matériau et liaison chimique.
- P. 30
- 2.3, Liaisons chimiques et propriétés mécaniques.
- P. 31
- 2.3.1, Propriétés mécaniques et cristallinité.
- P. 32
- 2.3.2, Rigidité : de dur à mou.
- P. 35
- 2.3.3, La ténacité : ductilité - fragilité.
- P. 35
- 2.3.4, Propriétés mécaniques des matériaux organiques et transition vitreuse (Tg).
- P. 37
- 3, Microstructures en science des matériaux.
- P. 37
- 3.1, Problèmes à résoudre en science des matériaux.
- P. 37
- 3.2, Microstructures des matériaux.
- P. 41
- 3.3, Microstructures des polymères.
- P. 43
- 3.4, Défauts cristallins et propriétés dans matériaux.
- P. 47
- 3.5, Propriétés des polymères à l'état solide.
- P. 48
- 4, Microstructures des matériaux biologiques.
- P. 48
- 4.1, Problèmes à résoudre en biologie.
- P. 50
- 4.2, Singularité du matériau biologique : importance de la phase liquide.
- P. 52
- 4.3, Microstructure en biologie.
- P. 55
- 4.4, Rôle des structures sur les propriétés fonctionnelles.
- P. 59
- CHAPITRE 2 : LES DIFFÉRENTS MODES D'OBSERVATIONS EN MICROSCOPIE ÉLECTRONIQUE (SEM, TEM, STEM).
- P. 59
- 1, Introduction.
- P. 60
- 2, Signaux utilisés pour la microscopie électronique.
- P. 60
- 2.1, Interaction électron-matière.
- P. 61
- 2.2, Signaux utilisés pour l'imagerie.
- P. 62
- 2.3, Signaux utilisés pour l'analyse chimique.
- P. 64
- 2.4, Signaux utilisés pour la structure.
- P. 65
- 3, Microscopes et modes d'observation.
- P. 65
- 3.1, Sources d'illumination.
- P. 66
- 3.2, Modes d'illumination et limites de détection.
- P. 67
- 3.3, Résolutions du microscope et analyse.
- P. 67
- 3.3.1, Résolution limite du microscope TEM.
- P. 68
- 3.3.2, Résolution spatiale.
- P. 68
- 4, Les différents types de microscopes (SEM, TEM, STEM).
- P. 68
- 4.1, Microscope à balayage (MEB/SEM).
- P. 69
- 4.2, Microscope conventionnel (CTEM).
- P. 73
- 4.3, Microscope analytique TEM/STEM et dedicated STEM.
- P. 75
- 5, Différents modes d'observations en TEM.
- P. 75
- 5.1, Origine du contraste en TEM.
- P. 78
- 5.2, Modes d'imagerie en contraste de diffraction (en TEM et en TEM/STEM).
- P. 79
- 5.3, Modes d'imagerie en contraste chimique (en TEM et en TEM/STEM).
- P. 80
- 5.4, Modes d'imagerie en contraste spectroscopique (en TEM et TEM/STEM).
- P. 81
- 5.5, Modes d'analyse chimique EDS (TEM et en TEM/STEM).
- P. 82
- 5.6, Modes d'analyse spectroscopique EELS (en TEM et en TEM/STEM).
- P. 82
- 6, Conclusion et bilan des informations.
- P. 87
- CHAPITRE 3 : PROBLÉMATIQUE MATÉRIAU ET ANALYSES EN TEM ET TEM/STEM.
- P. 87
- 1, I ntroduction.
- P. 87
- 2, Analyses préalables aux analyses TEM.
- P. 89
- 2.1, La caractérisation macroscopique et mésoscopique.
- P. 89
- 2.2, La caractérisation microscopique.
- P. 91
- 2.3, La caractérisation microscopique et nanoscopique.
- P. 92
- 3, Démarche pour aborder l'étude d'un matériau.
- P. 94
- 4, Choix du type d'analyse TEM.
- P. 94
- 5, Analyse de la topographie.
- P. 95
- 6, Analyse structurale.
- P. 95
- 6.1, Morphologie et structure des matériaux.
- P. 98
- 6.2, Structure atomique.
- P. 100
- 7, Analyse cristallographique.
- P. 102
- 8, Analyse des défauts cristallins : 1D (dislocations), 2D (joints de grains, interfaces) et 3D (précipités).
- P. 103
- 9, Analyse chimique KDS et spectroscopique EELS.
- P. 104
- 9.1, Identification cl répartition de phases.
- P. 105
- 9.2, Profils de concentration et analyse des interfaces.
- P. 106
- 10, Analyses structurales en conditions particulières.
- P. 106
- 10.1, Analyses in situ.
- P. 107
- 10.2, Cryo-microscopie.
- P. 108
- 11, Étude des propriétés.
- P. 108
- 11.1, Propriétés optiques.
- P. 108
- 11.2, Propriétés électriques.
- P. 108
- 11.3, Propriétés électroniques.
- P. 108
- 11.4, Propriétés magnétiques.
- P. 109
- 11.5, Propriétés mécaniques.
- P. 109
- 11.6, Propriétés chimiques.
- P. 109
- 11.7, Propriétés fonctionnelles.
- P. 109
- 12, Relation entre l'épaisseur des échantillons et le type d'analyse (en TEM et en TEM/STEM).
- P. 110
- 13, Bilan des analyses par TEM.
- P. 113
- CHAPITRE 4 : MÉCANISMES PHYSIQUES ET CHIMIQUES DES TECHNIQUES DE PRÉPARATION.
- P. 113
- 1, Introduction.
- P. 114
- 2, Action mécanique.
- P. 114
- 2.1, Principe du comportement mécanique d'un matériau.
- P. 116
- 2.2, Principe de l'abrasion.
- P. 117
- 2.2.1, Techniques impliquant une découpe par abrasion mécaniques : sciage, carottage.
- P. 118
- 2.2.2, Techniques impliquant une abrasion : polissage mécanique, meulage concave et tripode.
- P. 118
- 2.3, Principe de la rupture.
- P. 119
- 2.3.1, Techniques impliquant une fracture : broyage, coin clivé, ultramicrotomie, cryo-ultramicrotomie, cryo-fracture.
- P. 121
- 3, Action chimique.
- P. 121
- 3.1, Principe de la dissolution chimique et électrochimique.
- P. 123
- 3.1.1, Techniques impliquant une dissolution chimique et électrochimique.
- P. 125
- 4, Action ionique.
- P. 125
- 4.1, Principe de l'abrasion ionique.
- P. 127
- 4.2, Techniques impliquant une abrasion ionique : bombardement ionique, amincissement par faisceau d'ions focalisés FIB.
- P. 130
- 5, Action conduisant à un changement d'étatdes matériaux contenant une phase aqueuse.
- P. 130
- 5.1, Élimination de la phase aqueuse.
- P. 132
- 5.2, Principe de In congélation.
- P. 135
- 5.3, Principe de la substitution, imprégnation et enrobage en mode cryogénique.
- P. 136
- 5.4, Principe de la cryo-sublimation.
- P. 137
- 6, Action conduisant à un changement des propriétés du matériau.
- P. 137
- 6.1, Principe de la fixation chimique.
- P. 143
- 6.2, Principe de la déshydratation.
- P. 143
- 6.3, Principe de l'imprégnation.
- P. 146
- 6.4, Principe de l'enrobage ou de l'inclusion.
- P. 147
- 6.5, Principe du contraste coloration positive .
- P. 148
- 7, Action physique conduisant à un dépôt.
- P. 148
- 7.1, Dépôt physique.
- P. 148
- 7.2, Physique des dépôts.
- P. 150
- 7.2.1, Nature des éléments chimiques utilisés comme source.
- P. 150
- 7.2.2, Les différents modes de production des particules.
- P. 155
- 7.2.3, Le vide.
- P. 155
- 7.2.4, Le substrat.
- P. 156
- 7.3, Techniques impliquant un dépôt physique : film mince continu ou à trous, renforcement de contraste par ombrage ou décoration, répliques cryo-fracture.
- P. 156
- 7.3.1, Techniques des répliques.
- P. 157
- 7.3.2, Renforcement du contraste par un dépôt physique : contraste coloration négative .
- P. 159
- CHAPITRE 5 : ARTEFACTS EN MICROSCOPIE ÉLECTRONIQUE EN TRANSMISSION.
- P. 163
- 1, Introduction.
- P. 163
- 2, Artefacts induits par la préparation.
- P. 163
- 2.1, Artefacts induits par une préparation mécanique.
- P. 165
- 2.2, Artefacts induits par une préparation ionique.
- P. 168
- 2.3, Artefacts induits par une préparation chimique.
- P. 170
- 2.4, Artefacts induits par une préparation physique.
- P. 173
- 3, Artefacts induits pendant l'observation au TEM.
- P. 175
- 3.1, Artefacts induits pendant l'observation au TEM.
- P. 175
- 4, Exemples d'artefacts.
- P. 196
- 5, Tableaux récapitulatifs.
- P. 199
- CHAPITRE 6 : CHOIX DE LA TECHNIQUE DE PRÉPARATION EN FONCTION DE LA PROBLÉMATIQUE MATÉRIAU ET DES ANALYSES TEM.
- P. 199
- 1, Introduction.
- P. 199
- 2, Classement des techniques de préparation.
- P. 201
- 3, Caractéristiques des techniques de préparation.
- P. 202
- 4, Critères utilisés pour le choix d'une technique de préparation.
- P. 202
- 5, Critères de choix en fonction du type de matériau.
- P. 205
- 6, Critères de choix en fonction do l'organisation du matériau.
- P. 207
- 7, Critères de choix en fonction des propriétés du matériau.
- P. 207
- 7.1, En fonction de Téhit physique du matériau.
- P. 208
- 7.2, En fonction des phases chimiques du matériau.
- P. 209
- 7.3, En fonction des propriétés électriques du matériau.
- P. 209
- 7.4, En fonction des propriétés mécaniques du matériau.
- P. 212
- 8, Critères de choix liés au type d'analyse TEM.
- P. 219
- 9, Choix de l'orientation de la coupe de l'échantillon.
- P. 220
- 9.1, Géométrie de la microstructure.
- P. 222
- 9.2, Géométrie du défaut de structure.
- P. 224
- 10, Critères de choix liés aux artefacts induits par la technique de préparation.
- P. 224
- 11, Adaptations de la technique en fonction des problèmes liés à l'observation.
- P. 225
- 11.1, Diminution de l'épaisseur de la lame mince.
- P. 225
- 11.2, Augmentation du contraste.
- P. 225
- 11.3, Diminution des effets de charge.
- P. 225
- 11.4, Atténuation de l'écrouissage.
- P. 226
- 11.5, Suppression de l'amorphisation de surface.
- P. 226
- 11.6, Suppression de la contamination de surface.
- P. 226
- 11.7, Nettoyage final de la lame mince.
- P. 230
- 12, Conclusion.
- P. 233
- CHAPITRE 7 : COMPARAISONS ENTRE TECHNIQUES.
- P. 233
- 1, Introduction.
- P. 233
- 2, Exemples sur des matériaux divisés.
- P. 231
- 3, Exemples sur des matériaux massifs ou multicouches.
- P. 267
- CHAPITRE 8 : CONCLUSION.

