X-ray diffraction topography

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Détails bibliographiques
Auteur principal: Tanner, Brian Keith
Format: Livre papier
Langue:Anglais
Publié: Oxford ; New York (N. Y.) ; Toronto : Pergamon Press cop. 1976.
Collection:International series in the science of the solid state 10
Sujets:
Autres localisations: Voir dans le Sudoc
Description
Description matérielle:1 vol. (xiii-174 p.) : ill., couv. ill. en coul. ; 26 cm.
Bibliographie:Notes bibliogr. Index
ISBN:0080196926 (rel.)