Plasmas froids : réactivité en volume et en surface

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Collectivités auteurs: Réseau Plasmas froids. Journées d'échanges :Bonascre, Ariège, Réseau Plasmas froids. Journées d'échanges (Auteur)
Autres auteurs: Massines, Françoise, 1959- (Directeur de la publication), Sanchez, Victor, 1941- (Auteur de l'introduction, etc.), Mottin, Stéphane, 1964- (Directeur de la publication)
Format: Livre papier
Langue:Français
Publié: Saint-Étienne : Publications de l'Université de Saint-Étienne 2004.
Collection:Intégrations / Stéphanr Mottin [4]
Sujets:
Note: Autre tirage : 2005
Ill. : schémas, etc.
"Cet ouvrage, initié par le Réseau "Plasmas Froids", s'inscrit dans la continuité de l'action transdisciplinaire de la MRCT (Mission des Ressources et Compétences Technologiques) du CNRS." (cit. p. [4])
Autres localisations: Voir dans le Sudoc
Table des matières:
  • P. 9
  • Préface / Victor Sanchez
  • P. 11
  • Introduction : le réseau Plasmas froids et la Mission des Ressources et Compétences Technologiques du CNRS / Gérard Lelièvre, Françoise Massines et Elodie Girard
  • I - Réactivité en volume
  • P. 17
  • 1-1. Cinétique en volume dans les décharges azote-oxygène / M. Touzeau
  • P. 43
  • I-2. Simulation en laboratoire de la production d'analogues d'aérosols organiques de l'atmosphère de titan par plasma RF / G. Cernogora, C. Szopa, P. Coll, L. Boufendi
  • P. 63
  • I-3. Utilisation des diodes laser infrarouge pour les plasmas / A. Rousseau
  • II - Traitement de surface par les plasmas
  • P. 79
  • II-1. Mécanismes élémentaires d'interaction particules-surfaces / P. Brault
  • P. 109
  • II-2. Interaction plasma d'arc - surface pour l'obtention de dépôt: influence de la réactivité, des interfaces, de la micro et nano-structure sur les propriétés mécaniques / A. Denoirjean
  • P. 133
  • II-3. Interaction Laser- Silicium / J. Boulmer, D. Débarre, T. Sarnet, G. Kerrien, M. Hernandez
  • P. 159
  • II-4. Dépôts de couches minces de silicium par voie plasma RF / P. Roca. i Cabarrocas)
  • III - Caractérisation des surfaces
  • P. 181
  • III-1. Introduction aux techniques d'analyse de surface / C. Cardinaud, A. Goulet, T. Minea
  • P. 235
  • III-2. Ellipsométrie infrarouge à modulation de phase. Principes et applications / E. Garcia-Caurel, B. Drévillon
  • P. 257
  • III-3. Réflectométrie de Rayons-X / A. Van der Lee